| 日立u - 4100分光光度計(jì)
這個(gè)大樣本室u - 4100系統(tǒng)提供了各種光學(xué)和電子材料的非破壞性透過(guò)率/反射率測(cè)量，包括薄膜、透鏡、大尺寸玻璃、硅片、光學(xué)部件、新材料、液晶基板和太陽(yáng)能電池，超出了太陽(yáng)能電池組件的測(cè)量范圍。該系統(tǒng)是專為固體樣品的透射或反射測(cè)量。您可以構(gòu)建一個(gè)非常適合于特定測(cè)量目標(biāo)的系統(tǒng)，將系統(tǒng)與各種配件相結(jié)合，例如一個(gè)鏡面反射裝置。
?評(píng)估提供了巨大的靈活性和質(zhì)量控制的各種光學(xué)元件的波長(zhǎng)范圍175 - 2600或175 - 3300 nm(選項(xiàng))。
?可用/光柵或棱鏡光柵/光柵雙單色儀系統(tǒng)配置與標(biāo)準(zhǔn)(200 x 200毫米)或大樣本室(430 x 430毫米)
?非常高的性能要求最高的樣本
?廣泛的配件為鏡面,絕對(duì)和漫反射系數(shù)和樣品持有人不同的樣本大小
?報(bào)告生成器(選項(xiàng))是用于生成報(bào)告的格式,每個(gè)用戶所特有的
?u - 4100提供了一個(gè)總分析解決方案應(yīng)用于廣泛的領(lǐng)域。您可以定制u - 4100來(lái)滿足您的需求，范圍廣泛的可選樣品配件系列。
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